Jetzt auswählen und bestellen
72,72 €
exkl. USt.
In den Warenkorb
Norm

ÖNORM EN ISO 9220

Ausgabedatum: 1995 02 01

Metallische Überzüge - Messung der Schichtdicke - Verfahren mit Rasterelektronenmikroskop (ISO 9220:1988)

Diese Internationale Norm legt ein Verfahren zur Messung der örtlichen Dicke metallischer Überzüge fest, in dem Querschnitte mit einem Rasterelektronenmikroskop (REM) unt...
ZURÜCKGEZOGEN: 2022 06 01
Diese Internationale Norm legt ein Verfahren zur Messung der örtlichen Dicke metallischer Überzüge fest, in dem Querschnitte mit einem Rasterelektronenmikroskop (REM) untersucht werden. Es handelt sich um ein zerstörendes Verfahren, das eine Meßunsicherheit von weniger als 10 % oder 0,1 un hat. Dieses Verfahren kann für Schichtdicken bis zu mehreren Millimetern verwendet werden, es ist jedoch im allgemeinen zweckmäßiger, hierfür ein Lichtmikroskop (ISO 1463) anzuwenden, so-fern das möglich ist.
ÖNORM EN ISO 9220
2022 06 01
Metallische Überzüge - Messung der Schichtdicke - Verfahren mit Rasterelektronenmikroskop (ISO 9220:...
Norm
ÖNORM EN ISO 9220
1995 02 01
Metallische Überzüge - Messung der Schichtdicke - Verfahren mit Rasterelektronenmikroskop (ISO 9220:...
Norm
Norm
ISO 2064:1996
Ausgabedatum : 1996 10 03
Metallic and other inorganic coatings — Definitions and conventions concerning the measurement of thickness
Norm
ISO 1463:1982
Ausgabedatum : 1982 07 01
Metallic and oxide coatings — Measurement of coating thickness — Microscopical method
Norm
ISO 2064:1996
Ausgabedatum : 1996 10 03
Metallic and other inorganic coatings — Definitions and conventions concerning the measurement of thickness
Norm
ÖNORM EN ISO 9220
Ausgabedatum : 2022 06 01
Metallische Überzüge - Messung der Schichtdicke - Verfahren mit Rasterelektronenmikroskop (ISO 9220:2022)
Norm
ISO 9220:1988
Ausgabedatum : 1988 09 29
Metallic coatings — Measurement of coating thickness — Scanning electron microscope method