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Norm
ÖNORM EN ISO 3497
Ausgabedatum: 2001 07 01
Metallische Schichten - Schichtdickenmessung - Röntgenfluoreszenz-Verfahren (ISO 3497:2000)
WARNHINWEIS Probleme bezüglich der Strahlenschutzes der Mitarbeiter sind nicht Gegenstand der vorliegenden
internationalen Norm. Wegen Angaben zu diesem wichtigen Aspekt...
Gültig
Herausgeber:
Austrian Standards International
Format:
Digital | 22 Seiten
Sprache:
Deutsch
| Englisch
| Download DE/EN
Standards mitgestalten:
Fachgebiete
Bauprodukte, Oberflächenbehandlung, Metallische Beschichtungen
Chemie, Papier & Textilien, Oberflächenbehandlung, Metallische Beschichtungen
Maschinenbau - Grundlagen & Werkstoffe, Oberflächenbehandlung, Metallische Beschichtungen
Maschinenbau - Grundlagen & Werkstoffe, Geometrische Produktspezifikation, Oberflächenbeschaffenheit
WARNHINWEIS Probleme bezüglich der Strahlenschutzes der Mitarbeiter sind nicht Gegenstand der vorliegenden
internationalen Norm. Wegen Angaben zu diesem wichtigen Aspekt sollte auf die geltenden internationalen
und nationalen Normen und Vorschriften Bezug genommen werden.
1.1 Diese internationale Norm legt Verfahren zur Messung der Dicke metallischer Schichten nach dem Röntgenfluoreszenz-
Verfahren fest.
1.2 Die Meßverfahren, für die diese internationale Norm gilt, sind grundlegende Verfahren, bei denen die
flächenbezogene Masse bestimmt wird. Bei bekannter Dichte des Schichtwerkstoffs können die Meßergebnisse
auch als längenbezogene Schichtdicke angegeben werden.
1.3 Die Meßverfahren erlauben die gleichzeitige Messung von Schichtsystemen mit bis zu drei Schichten, oder
die gleichzeitige Messung der Dicke und Zusammensetzung von Schichten mit bis zu drei Bestandteilen.
1.4 Die praktischen Meßbereiche vorgegebener Schichtwerkstoffe werden zum größten Teil von der Energie der
zu analysierenden charakteristischen Röntgenfluoreszenzstrahlung und der zulässigen Meßunsicherheit
bestimmt, und sie können je nach Gerätesystem und Betriebsverfahren unterschiedlich sein.
ÖNORM EN ISO 3497
2001 07 01
Metallische Schichten - Schichtdickenmessung - Röntgenfluoreszenz-Verfahren (ISO 3497:2000)
Norm
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Ausgabedatum :
2000 12 21
Metallic coatings — Measurement of coating thickness — X-ray spectrometric methods