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ÖNORM EN ISO 3497

Ausgabedatum: 2001 07 01

Metallische Schichten - Schichtdickenmessung - Röntgenfluoreszenz-Verfahren (ISO 3497:2000)

WARNHINWEIS Probleme bezüglich der Strahlenschutzes der Mitarbeiter sind nicht Gegenstand der vorliegenden internationalen Norm. Wegen Angaben zu diesem wichtigen Aspekt...
Gültig
WARNHINWEIS Probleme bezüglich der Strahlenschutzes der Mitarbeiter sind nicht Gegenstand der vorliegenden internationalen Norm. Wegen Angaben zu diesem wichtigen Aspekt sollte auf die geltenden internationalen und nationalen Normen und Vorschriften Bezug genommen werden. 1.1 Diese internationale Norm legt Verfahren zur Messung der Dicke metallischer Schichten nach dem Röntgenfluoreszenz- Verfahren fest. 1.2 Die Meßverfahren, für die diese internationale Norm gilt, sind grundlegende Verfahren, bei denen die flächenbezogene Masse bestimmt wird. Bei bekannter Dichte des Schichtwerkstoffs können die Meßergebnisse auch als längenbezogene Schichtdicke angegeben werden. 1.3 Die Meßverfahren erlauben die gleichzeitige Messung von Schichtsystemen mit bis zu drei Schichten, oder die gleichzeitige Messung der Dicke und Zusammensetzung von Schichten mit bis zu drei Bestandteilen. 1.4 Die praktischen Meßbereiche vorgegebener Schichtwerkstoffe werden zum größten Teil von der Energie der zu analysierenden charakteristischen Röntgenfluoreszenzstrahlung und der zulässigen Meßunsicherheit bestimmt, und sie können je nach Gerätesystem und Betriebsverfahren unterschiedlich sein.
ÖNORM EN ISO 3497
2001 07 01
Metallische Schichten - Schichtdickenmessung - Röntgenfluoreszenz-Verfahren (ISO 3497:2000)
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ISO 3497:2000
Ausgabedatum : 2000 12 21
Metallic coatings — Measurement of coating thickness — X-ray spectrometric methods